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Chromatis色散测量系统可表征用于飞秒脉冲激光器的反射和透射光学组件的群延迟色散(GDD)特性。超快脉冲在通过光学系统传播时会变宽；了解每个光学元件引起的GDD并适当补偿失真，可以恢复短脉冲宽度。为了获得高度准确和可靠的结果，Chromatis使用时域白光干涉仪(WLI)来测量GDD。该色散测量系统包含软件，可指导用户进行光束对准(条纹优化)、自动找到零延时位置(条纹对比max.)并快速测量色散。
Chromatis色散测量系统具有光纤耦合的稳定卤素光源，其有效波长范围为500至2100 nm。该宽带光源可表征为用于钛蓝宝石、掺镱光纤和掺铒光纤激光器的超快光学元件。由于干涉图是在时域中记录，因此可以使用单个光电二极管探测器(而不是光谱仪)进行测量，并且内置的HeNe参考激光器可对波长轴进行校准。该系统包括一个波长为500-1100 nm的硅光电二极管。但是，可以很容易地连接InGaAs探测器进行1000-1650 nm波长范围内的测量。
通常，低色散光学元件仅需要几百飞秒即可捕获整个干涉图，因此使用滤光片限制入射光的波长范围常有助于减少所需的扫描范围和总体噪声。Chromatis色散测量系统具有六个用于滤光片的插槽，并且包含覆盖500-700 nm、600-1000 nm和950-1100 nm波长范围的带通滤光片，用于与硅光电二极管配合使用。由于滤光会降低扫描的整体强度，因此会降低干扰对比度，而光电二极管具有可变的增益设置以补偿此衰减。
- 用于测量色散的白光干涉仪
- 稳定卤素光源的宽带发射
- 可安装Ø1/2英寸和Ø1英寸的光学元件
- 标准测量模式，包含夹具和参考光学元件
0°反射
0° - 70°透射
5° - 70°角度反射
- 可选反射镜对夹具
- 同时测量S偏振和P偏振
- 包含用于波长自校准的HeNe参考激光器
- 包含用于空间对准的红光和绿光二极管激光器
- 可选两个用户可更换的探测器
- 机架式2U柜(3.5英寸面板高度)中包含电子设备
- 由包含的预装软件Windows笔记本操作
- InGaAs 检测器模块，用于测量至 1650 nm
- 2”光学装置
- 镜对夹具
- 用于测量高色散光学器件（例如 AOM 晶体）的硬件
- 范围扩展到7 或 2.2 微米
确认膜层设计规格
光学元件检查
质量控制测量
色散测量系统（不包括光学和镜对夹具）
快速表征光学组件中的色散
宽带光谱范围：500-2100 nm
GDD测量精度：±5 fs2
反射和透射模式
组成：宽带、低色散分束器和两个延迟臂
津公网安备12010102000950号