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产品介绍
Norcada 碳化硅膜为电子、X 射线和光学显微镜提供了坚固的导电基板。SiC是一种具有高导热性和导电性的导电晶体材料，为元素分析提供了无氮环境。SiC膜可用作原位电化学和气体电池的基板，以及薄膜外延生长的基板。这些独特的膜还可以用作X射线光学器件，光子晶体，量子谐振器和MEMS结构的基础。SiC 还可用作 X 射线光学器件、X 射线束出入口窗口、探测器窗口和 X 射线终端站的透射窗口。请联系Norcada以获取有关SiC传输窗口的更多信息，因为某些单元的设计和组成可能需要更改。
性能特点
- 用于薄膜和生物材料的EDX元素分析和X射线光谱的无氮底物
- 高导热性
- 低电阻率硅框架，增加电荷和散热
技术参数
- 产地：加拿大
- 厚度:50nm
- 薄膜尺寸：0.50×0.50mm
- 孔径：2.0µm
- 孔间距：3.0µm
- 是否进口：是
- 应用：广泛
- 封装：厂家制定
- 性能：良好
- 可靠性：高
产品参数
津公网安备12010102000950号