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产品介绍
APRE干涉仪 - 标准和定制 - 提高您的计量能力，使您可以满足客户的需求。从我们的 S 系列干涉仪中选择并构建适合您的系统。
在光学制造方面，不允许出现停机或不准确的情况。具有低成像分辨率和过时软件的干涉仪会牺牲时间和质量，从而削减利润并损害您的声誉。
性能特点
- 1百万像素 @160 Hz 衍射极限成像
- 10倍虚拟变焦
- 2倍更大的斜率接受度
- 快速、准确的表面和波前测量
技术参数
- 输出直径：51 毫米（2 英寸）
- 工作台的光学中心线：108 毫米（4.25 英寸）
- 对焦范围：±2米
- 尺寸（长 x 宽 x 高）63 x 29 x 18 厘米（24.8 x 11.4 x 7 英寸）
- 重量：25 公斤（55 磅）
- 对准系统：具有2° 捕获范围的十字线的 2 点
- 激光源：稳频 SLM 633 nm HeNe（多种功率和 λ 选项）
- 激光频率稳定性：<0.0001纳米
- 相干长度：>100米
- 输出极化：圆
- 相机分辨率：2044 X 2044 像素 [1024 X 1024 像素]
- 数字化：12位
- 安装配置：水平或垂直
- 温度：15º C 至 30º C（59º F 至 86º F）
- 湿度：5 至 95% 相对，非冷凝
- 隔振：推荐用于 PSI 和 VTPSI 的隔离系统
产品参数
津公网安备12010102000950号