产品中心
产品介绍
maxLIGHT 采用无缝设计，可提供光收集量和业内高效率。经像差校正的平场波长覆盖范围从 1nm 到 200nm，光谱带宽宽广，例如每个光栅可覆盖 5-80nm 的波长。maxLIGHT 具有集成的狭缝支架和滤光片插入装置，以及电动光栅定位装置。检测器选项包括用于高分辨率和动态范围的 XUV CCD，以及用于宽波长覆盖范围和门控/增强检测的 MCP/CMOS 检测器。采用直接光源成像。因此，无需狭窄的入口狭缝，可大限度地收集光线。与传统的光谱仪结构相比，到达光谱仪探测器的光量增加了 20 倍。这种结构还大大提高了日常运行的稳定性。
性能特点
平场掠入射光谱仪
采用专有的无狭缝设计，效率高
波长范围从 1 nm到 200 nm
集成示波器
模块化交钥匙设计
选型指南
可选功能与配件
无磁、旋转几何、偏振等
技术参数
产地：德国
拓扑结构：像差校正平场光谱仪和光束轮廓仪
光源距离：灵活
探测器：CCD 或 MCP/CMOS
工作压力：<10-6 mbar（提供 UHV 版本）
无缝技术：是
入口狭缝：可选
光栅定位：电动闭环
光谱滤波器插入单元：是
控制接口：USB 或以太网
软件：Windows UI 和 Labview/VB/C/C++ SDK
可定制：完全可定制
波长范围：1-20 nm
色散：0.2-0.4 nm/mm
分辨率：在 10 nm处 <0.015 nm
产品应用
高次谐波发生源、阿秒科学、强激光物质相互作用、自由电子激光器、激光和放电产生的等离子体源、X 射线激光器、激光驱动的二次光源
产品参数
津公网安备12010102000950号